A naptejek és napvédelmet kínáló kozmetikumok általában két módszert alkalmaznak a védelemre: organikus összetevőket, melyek elnyelik az UV sugarakat és nem organikus összetevőket, amik fizikai gátat képeznek és az UV sugarakat visszaverik a bőrről. A fém-oxid, titán-oxid és cink-oxid használatos általában, mint „visszaverő” komponens. A modern termékekben, ezeket a fém-oxid részecskéket nanométeres skálán készítik, mely által nem látszanak a termékben. Ez azt jelenti, hogy számos különböző termék, mint pl. sminkek is rendelkezhetnek napvédő elemekkel, anélkül, hogy a termék színét megváltoztatnák.
A fém-oxidok hatékonysága a védelem mértékére vonatkozóan, mely a naptejek és kozmetikumok ilyen jellegű besorolását is meghatározza a terméken belüli oxid mennyiségétől függ, csakúgy, mint a részecskék méretétől és formájától. Épp ezért nélkülözhetetlen a fém-oxid tartalom szabályozása a gyártás során, hiszen ez garantálja, hogy a napvédő a kívánt módon védelmezi a felhasználó bőrét.
Telepített röntgenflureszcens (XRF) elemző a TiO2 és a ZnO meghatározására.
A röntgen fluoreszcencia (XRF) ideális módszer a titán és cink-oxidok meghatározására a napvédőkben és kozmetikumokban, hiszen teljes mértékben roncsolásmentes, gyors és rendkívül kevés mintalőkészítést igényel, még akkor is, ha a minta por, krém, vagy gél.
A Hitachi High-Tech X-Supreme 8000 telepített XRF elemzője könnyedén végzi el a napvédők és kozmetikumok rutinelemzését. Nagyon elfoglalt gyártási környezetben való használatra tervezték, így az X-Supreme 8000 számos tulajdonsággal rendelkezik, mely nagymennyiségű termék pontos specifikációk mentén történő mérése esetén segít.
Erőteljes technológia – pontos eredmények
Az X-Supreme egy nagyteljesítményű röntgencsövet és egy nagy felbontású szilikon-drift detektort (SDD) is tartalmaz. Ezek egyfajta „tandemben” dolgoznak, hogy az eredmények pontosak és precízek lesznek, mindezt perceken belül, hiszen a ZnO és a TiO2 mérése egy időben történik.
Hogy még tovább növelje a pontosságot, az X-Supreme8000 egy minta-spinnert is tartalmaz, mely a minták forgatásával számos mérés elvégzését teszi lehetővé azok felületén. Ez csökkenti a minták inhomogenitásának hatását és segíti a megismételhető eredményeket.
Egyszerű használat
A minta méréséhez mindössze annyi a teendő, hogy a folyadékot egy mintapohárba öntjük, behelyezzük a készülékbe és lecsukjuk a fedelét. Egyszerűen csak gépelje be a minta nevét későbbi referenciának és nyomja meg a gombot az elemzés megkezdéséhez. Az eredmények másodperceken belül megjelennek a nagyméretű érintőkijelzőn. A szoftver úgy is beállítható, hogy egy egyszerű PASS/FAIL üzenetet írjon ki, mely az eredmények kiértékelésekor csökkentheti a hibákat, főleg, ha sok mintával dolgozunk.
Elég robusztus a gyártási környezethez is
Az XRF elemzők nagypontosságú, precíziós készülékek, az X-Supreme pedig számos biztonsági tulajdonsággal rendelkezik, melyek a készülék érzékenyebb részeit védik használat közben. Például egy második biztonsági ablak is használható a mintapohár alatt, hogy ne legyen veszteség egy esetleges szivárgás esetén sem. Az X-Supreme emellett beépített mintacserélővel is rendelkezik, mely biztosítja, hogy a minták a röntgencső és detektor vonalában vannak, mikor mérést végzünk, majd annak végeztével tovább is mozgatja őket.
Az X-Supreme8000 egy erőteljes készülék, mely nagyban támogatja a napkrémekhez és kozmetikumokhoz kötődő minőségellenőrzési folyamatokat, biztosítva, hogy minden adag megfelel a szigorú elvárásoknak. A gyors vizsgálati idő, a megbízható eredmények és a beépített biztonsági tulajdonságok csökkenti az üres időközöket és növeli a teszthatékonyságot.
Forrás: Hitachi-High-Tech Blog