Hitachi EA8000

EA8000
EA8000

A Hitachi EA8000 röntgenes elemző készülék gyors és hatékony minőségellenőrzést tesz lehetővé a Li-Ion akkumulátorok gyártási folyamatai során. A röntgenes képalkotás és a röntgenfluoreszcens (XRF) elemzést egy készülékben kombinálva az EA8000 képes felismerni és azonosítani a Li-Ion akkumulátorok teljesítményét negatívan befolyásoló, akár végzetes meghibásodást okozó káros fémszennyeződéseket, részecskéket. A kombinált vizsgálati apparátus egyedülálló összehasonlító képet ad a kritikus területeken jelenlévő fém részecskék méretéről, eloszlásáról és típusáról. A készülék alkalmas nyersanyagok vizsgálatára, folyamatszabályozásra és az esetleges hibák elemzésére is.
 

Gyors elemzés
A röntgenes képalkotás, illetve az XRF technológia innovatív kombinácójának köszönhetően az EA8000 más metódusokhoz képest akár 100x gyorsabb elemzést is lehetővé tesz. Például 20µm méretű fém részecskék észlelése és összetétel-elemzése egy 200 x 250mm területen, mindössze 30 percet vesz igénybe.
Automata működés
A képalkotás segítségével az EA8000 észleli a fém részecskéket, majd az adott területeket automatikusan vizsgálni kezdi az XRF technológia alkalmazásával. Ez az automata folyamat garantálja, hogy minden szennyezett terület elemzésre kerül, ezzel csökkentve a kezelői hiba esélyét.
 
Felszín alatti szennyeződések észlelése
A képalkotó technológia biztosítja, hogy a fém részecskék a minták teljes területén észlelésre kerülnek. A fejlett XRF polikapilláris optikának köszönhetően a nagy fókuszú és erőteljes röntgensugarak a felszín alatti részecskék elemzésére is képesek.
Nagy teljesítmény
Az EA8000 sokoldalúsága, sebessége és automata működése garantálja a nagy teljesítményt a gyártás és ellenőrzés során. Mivel a vizsgálatok gyorsan lefolytathatók, a készülék ideális nyersanyagok elemzésére, folyamatszabályozásra és a hibák elemzésére is, ezzel biztosítva, hogy a Li-Ion akkumulátorok gyártásának összes aspektusa megfelel a legmagasabb minőségi elvárásoknak.

SDD: Nagyfelbontású SDD
XRF: Polikapilláris XRF optika
Anyagok: Al - U
Működés: Windows PC
XY tengely: Motorizált, automata használat
Minta konfiguráció: Szilárd anyagok, porok, folyékony/híg minták
Max. mintaméret (Szé x Mé x Ma): 250 x 200 x 50 mm
Adattárolás: Automatikus