RoHS mérés

A 2002/95/EC számjelŰ, ,,Restriction of Hazardous Substances” EU-direktíva – ismertebb nevén RoHS – különböző vegyületek felhasználását korlátozza elektromos árammal mŰködő termékekben.

Tovább a termékekhez >>

Tipp:

Pontosan mit jelent ez? Milyen módszerekkel tanúsítható a megfelelőség? Weboldalunk RoHS méréssel foglalkozó aloldalát azzal a céllal hoztuk létre, hogy pontos segítséget nyújtsunk az Ön cégének az RoHS vizsgálati módszerek közötti eligazodásban.

Roncsolásmentes RoHS analitika

Röntgenfluoreszcencia (XRF)

A gyakorlatban egyszerŰsége, könnyŰ kezelhetősége miatt talán a legelterjedtebb vizsgálati módszer a röntgen fluoreszcencia (X-ray fluorescence – XRF). Az eljárás lényege, hogy egy készülékkel röntgensugarakkal bombázzuk a vizsgálandó minta felületét, amely ennek hatására az adott elemre, anyagra jellemző karakterisztikus sugárzást bocsát ki, amelyet a készülék detektora érzékel.

Előnyök

Hátrányok

Az RoHS-tanúsítás szabványügyi háttere

A Nemzetközi Elektrotechnikai Bizottság (International Electrotechnical Commission – IEC) a gyakorlati életet figyelembe véve szabványosította (IEC 62321) az RoHS-tanúsítás menetét. Eszerint egyfajta előszŰrésre a legalkalmasabb módszer az XRF. A határérték körüli mérések esetén (ennek mértékét az egyes termékfajtákban a szabvány rögzíti) szükségesek a további pontosabb, de roncsolásos vizsgálatok. Mennyivel célszerŰ a határérték alatt valamint fölött lenni a mért értéknek a teljes bizonyossághoz:

Elem
Polimerekben
Fémekben
Elektronikai termékekben
Cd
P≤(70-3d) P≤(70-3d) LOD
Pb
P≤(70-3d) P≤(70-3d) P≤(500-3d)
Hg
P≤(70-3d) P≤(70-3d) P≤(70-3d)
Br
P≤(300-3d) P≤(250-3d)
Cr
P≤(700-3d) P≤(700-3d) P≤(500-3d)

Ahol:

A koncentrációk ppm egységben értendők


Termékek


Oxford Instruments X-MET 5100 kézi-spektrométer (XRF)

Oxford Instruments X-MET 5100 kézi-spektrométer (XRF)

Röntgenfluoreszcens kézi összetétel elemző fémötvözetek és forraszanyagok összetételének, valamint (nehéz)fémtartalom elemzésére (pl. műanyagban). Már több mint 2010 óta magyar nyelvű vezérlőszoftverrel!


Oxford Instruments X-Strata 980 rétegvastagsármérő és elemző berendezés

Oxford Instruments X-Strata 980 rétegvastagsármérő és elemző berendezés

Röntgenfluoreszcencia (XRF) elvén, roncsolásmentesen, pontszerűen mér egy- és többrétegű (galván) bevonat vastagságot és összetételt. Felületkezelők és galvanizálók csúcskészüléke. "Ha Ön fel tudja vinni, az X-Strata megméri!"


Oxford Instruments X-Supreme 8000 XRF berendezés

Oxford Instruments X-Supreme 8000 XRF berendezés

OXFORD X-Supreme energiadiszperzív XRF (EDXRF) elemző porok, granulátumok és folyadékok analízisére